切型干膜測厚儀455型（油漆檢驗規）

推薦切割式干膜測厚儀455型！使用手動切割器在涂膜上露出帶凹槽的橫截面并測量涂層厚度。
一種涂膜觀察儀器，它集成了用于切割涂膜的刀片和 50 倍顯微鏡（100 等分刻度）。
通過將涂膜切割成 V 形，可以輕松檢查涂膜的特性、厚度等。
符合 ISO 2808、ASTM D4138、DIN 50 986

科特科學kett電磁薄膜測厚儀LE-200J的特點

電磁式薄膜測厚儀LE-200J是一種電磁式薄膜測厚儀，用于測量應用于磁性金屬的薄膜厚度。

配備通過按鈕操作獲得平均值、標準偏差、最大值和最小值的統計計算功能，消除因基板差異導致的誤差的校準記憶功能，指定膜厚控制范圍的極限設置功能等和

測量結果可以使用內置打印機打印出來。

• 內置膜厚儀

日期、批號和測量結果可以當場打印出來并作為文件提交。

• 膜厚控制所需的統計計算功能

您可以通過簡單的操作獲得測量結果的平均值、標準偏差、最大值、最小值等。

• 校準記憶功能

為了應對基材的材質、形狀、厚度的變化，通過預先登錄四種電磁方式，可以登錄并調出基材的最佳校準曲線。

• 限位設定功能

您可以設置要管理的膜厚的上限和下限。

如果測量的膜厚超出設定范圍，蜂鳴器會響起，顯示屏上會顯示警告標記。

• 小探頭

鉛筆型單點接觸恒壓探頭，無論測量位置如何，都能提供穩定的測量值。

• 耐磨探頭

鈦涂層用于測量探頭尖端的電磁方法。

• 測量原理 電磁感應式（LE-200J的Fe探頭）

當交流電磁鐵靠近鐵（磁性金屬）時，通過線圈的磁通數量會根據接近距離而變化，從而改變施加在線圈兩端的電壓。

電磁膜厚儀從當前值讀取電壓變化并將其轉換為膜厚。

科特科學kett電磁薄膜測厚儀LE-200J規格書

測量方法	電磁感應
測量對象	磁性金屬上的非磁性涂層
測量范圍	0-1500μm 或 60.00mils
測量精度	小于 15 μm：±0.3 μm，15 μm 以上：±2%
解析度	100μm以下：0.1μm，100μm以上：1.0μm
符合標準	JIS K5600-1-7, JIS H8501, JIS H0401 / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499, ASTM D 7091-5, ASTM E 376
統計功能	測量次數、平均值、標準偏差、最大值、最小值、塊數
探測	一點接觸恒壓型（LEP-J）
顯示方式	數字（LCD，最小顯示位數0.1μm）
外部輸出	RS-232C接口（傳輸速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）或 電池1.5V（AA堿性）主機x 6，打印機x 4
尺寸/質量	120(W)×250(D)×55(H)mm, 1.0kg
配件	標準板、鐵底座、標準板盒、1.5V 電池（AA 堿性）、AC 適配器、探頭適配器、打印紙、便攜包
選項	L型探頭（LEP-21L）、RS-232C連接電纜、數據管理軟件“Data Logger KLD-01”、“McWAVE Lite”、“McWAVE Standard”、“McWAVE Professional”、“MultiProp”

（McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional 和 MultiProp 是 CEC 的商標。）