6.9號到貨YAMADA山田光學 鹵素光源裝置YP-150I
2023-06-09 17:48:19
admin
該裝置可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上，是一種用于宏觀觀察的照明裝置！
