喜提大單！淄博浩海新材料科技購買SANKO 山高三高Coatmaster Flex 非接觸式薄膜測厚儀 

膜厚計的用途

膜厚計是測量涂敷在產品表面的油漆、電鍍等涂層厚度（膜厚）的裝置。

涂漆主要是為了保護基材和美觀，但如果涂層厚度不合適，基材可能會生銹、出現裂紋。

因此，在涂裝過程中，使用膜厚儀檢查涂層是否涂敷到適當的厚度非常重要。

膜厚計的類型

非接觸式

光熱輻射膜厚儀

在光熱發射法（ATO）中，含有紅外成分的光脈沖（可見光/氙氣閃光）由于激發現象而用熱量（產生紅外）照射樣品涂層（表面）。紅外傳感器捕獲當時產生的輻射熱。

由于頻率根據涂層的固有物理性質而不同，因此通過測量從照射到輻射的時間(Δt)并進行算術處理來導出膜厚度值(μm)。
涂層越薄，從照射到輻射的時間越短，涂層越厚，時間越長。

一般情況下，涂層的表面非常不規則，固化前的粉末涂料表面更粗糙。該粗糙度特性受到預處理、基材類型和粗糙度以及涂層類型等多種因素的影響。

用接觸式膜厚計測量時，表面高度不同，因此增加測量點，取平均值來測量膜厚。

FTS 產品包括Coatmaster FLEX ，一種光熱輻射薄膜測厚儀。

反射光譜薄膜測厚儀

當光照射到基板上具有薄膜的樣本時，光分為在薄膜表面反射的光和在薄膜內部折射并在基板表面反射的光。

該反射光重疊并干涉，并且根據光的相位關系，亮度被增加，或者被抵消并變暗。

來自光源的光從保偏光纖發出，并再次接收從測試對象表面反射的光。

通過用分光計分析該光的干涉（波長），將其轉換成膜厚值并進行測量。

熒光X射線膠片測厚儀

當某種物質受到X射線照射時，會發射出該物質所含元素特定波長的二次X射線。這些發射的波長稱為熒光 X 射線。

由于從材料發射的熒光X射線的量取決于材料中所含元素的量，因此熒光X射線的量根據施加到基材上的涂層的厚度而變化。

通過與已測定膜厚的樣品進行比較，可以準確地測定膜的厚度。

紅外膜厚儀

膜厚是基于對測定對象物照射紅外線并使透射光(或反射光)分散而得到的光譜來測定的。

當涂層受到紅外光照射時，根據涂層的材質和厚度，它會吸收特定波長的紅外線。
根據涂層所用材料的“吸收率與膜厚的關系”，可以計算出測量對象的膜厚。

在需要實時測量結果的場合，通常采用3波長法來減少與膜厚測量不直接相關的因素（光源波動、測量目標的顏色濁度等）的影響。 ）。

觸點類型

電磁感應膜厚計

電磁涂層測厚儀（電磁感應式）通過初級線圈中產生的磁通量在次級線圈中感應期間的電流變化來測量涂層厚度。

基材必須是鐵等磁性材料，涂層必須是樹脂或鋁等非磁性材料。

將探頭（測量端子）與被測量物接觸，由于磁鐵“拉力”的強度而導致磁通密度發生變化，根據電流量的變化來測量膜厚流經電磁鐵。

當次級線圈接收到磁通量時，如果范圍內有磁性材料（鐵等磁性材料），磁通量分布就會發生變化，因此，通過測量感應電流的變化，可以測量出到磁性材料的距離（=薄膜厚度）。

如果涂層很薄，流過探針尖端磁鐵的電流會更高，因為探針和基材之間的距離更近。
如果涂層越厚，探頭與基材之間的距離越大，流過電磁體的電流量的變化越小。

• 基材：鐵、鋼、鐵素體不銹鋼等磁性材料

• 涂層：電鍍、油漆、樹脂膜等非磁性材料

渦流膜厚計

渦流測厚儀（渦流式）利用了初級線圈的磁通量在導體內部產生的渦電流量根據導體與初級線圈之間的距離而變化的事實。

基材必須是非磁性材料，例如鋁，薄膜必須是不導電的絕緣薄膜。

當初級線圈產生的磁通到達導體時，導體內部就會產生渦流（感應電流）。
當該渦流產生的磁通通過次級線圈時，在次級線圈中產生電動勢，渦流產生的磁通在次級線圈中產生的電動勢也根據與被檢測對象的距離而變化。導體。
因此，可以通過測量電動勢來測量到導體的距離（膜厚）。

• 基材：鋁、銅等非磁性金屬

• 涂層：塑料、樹脂、橡膠等絕緣薄膜。

超聲波膜厚儀

使用超聲波脈沖回波對非金屬材料（木材、混凝土、塑料等）上的涂層厚度進行無損測量。

將耦合劑（例如凝膠）涂在材料上，超聲波脈沖穿過涂層并從不同密度的層的邊界反射。

通過分析從涂層和基材之間（層間）界面反射的超聲波傳播時間的差異來測量膜厚。
邊界的厚度差異會改變脈沖反射回來所需的時間，因此即使對于多層涂層，也可以測量每層的厚度。

電磁涂層測厚儀與渦流涂層測厚儀的比較

*如果基材是木材、混凝土、塑料或玻璃，則無法測量。

可在電磁感應式和渦流式之間切換的膜厚計

涂層測厚儀K5-C可根據用途從電磁感應式和渦流式兩種探頭中選擇。

還有一個FNF探頭，可以自動檢測基材并在電磁感應和渦流之間切換。