STEM 的 CL/PL 測量系統 為Monch STEM（掃描透射電子顯微鏡）
添加了 CL 和 PL 測量功能。近紅外光檢測也是可能的！

產品概要

該產品是在掃描透射電子顯微鏡（STEM）的基礎上增加了擴展光聚焦和光照射功能的系統。在聚光模式下，電子束成為照射源，實現CL測量。在光照射模式下，激光激發后獲取電子圖像。還可以同時進行光照射和光收集，從而進行PL測量。
僧侶山（Monch/M?nch）是瑞士的一座山，屬于阿爾卑斯山。在德語中是“僧侶”的意思。Attolight 在其產品名稱中使用山脈名稱。

特征

• 通過優化反射鏡的曲率半徑和位置實現超高靈敏度

• 使用 InGaAs 相機進行近紅外波長檢測

• 檢測波長：200 nm～1.7 um

目的

• GaN、InP 和 SiC 的評估

• 太陽能電池（GaAs、CdTe、鈣鈦礦等）

• 引領

• 2D材料（石墨烯、BN、WS2、金剛石等）

系統配置

測量數據示例

(a) h-BN/WS2/h-BN 異質結構顯示出三種發射線：激子 (XA)、三重子 (X-) 和局域發射極 (L)。(b) c 和 d 中突出顯示的區域的 CL
光譜
。 ) 在 d 中測量的 HAADF 區域和 (d) 顯示局部 trion 增強的 X 強度圖。
（Bonnet 等人，avarXiv：2102.06140 (2021)）。

GaN/AlN NW 的光譜圖像（20 個 QDisk）

(a) GaN/AlN 納米線的 HAADF 圖像，比例尺為 20 nm。
(b) 與 CL 同時采集的納米線的 HAADF。
(c) 最強烈峰的波長位置。
(d) 最強烈峰的強度頂峰。