kett凱特膜厚計 探頭 HP-100
產(chǎn)品概要新開發(fā)的膜厚計用探頭L-500渦流探頭（用于非磁性金屬基材）存儲多達 50 個應(yīng)用程序記憶主要規(guī)格測量方法渦流測量對象非磁性金屬上的絕緣涂層測量范圍0 至 1,200μm 或 47.0mils測量精度小于 50 μm ±1.0 μm50 μm 以上 ±2%適用機型薄膜測厚儀 L-500
產(chǎn)品概要
新開發(fā)的膜厚計用探頭L-500
渦流探頭（用于非磁性金屬基材）
存儲多達 50 個應(yīng)用程序記憶
主要規(guī)格
測量方法 渦流 測量對象 非磁性金屬上的絕緣涂層 測量范圍 0 至 1,200μm 或 47.0mils 測量精度 小于 50 μm ±1.0 μm
50 μm 以上 ±2%適用機型 薄膜測厚儀 L-500