ASAHI SOKKI朝日測器切割樣品缺陷評估裝置 - ALTIS-RP
ASAHI SOKKI朝日測器切割樣品缺陷評估裝置 | ALTIS-RP使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。應用/特點它可以作為離線表面缺陷校準的專家設備，這對于質量評估至關重要。設備配置該設備是必須由用戶安裝和連接的設備。只需將檢測設備和 PC 放置在水平支架上，并用兩根電纜連接檢測設備和 PC 即可完成安裝。排隊根據泛光燈的結構，ALTIS 分為
ASAHI SOKKI朝日測器切割樣品缺陷評估裝置 | ALTIS-RP
使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。
應用/特點
它可以作為離線表面缺陷校準的專家設備，這對于質量評估至關重要。
設備配置
該設備是必須由用戶安裝和連接的設備。
只需將檢測設備和 PC 放置在水平支架上，并
用兩根電纜連接檢測設備和 PC 即可完成安裝。
排隊
根據泛光燈的結構，ALTIS 分為三種類型。
請根據檢查對象和檢查缺陷進行選擇，并在購買時注明。
*ALTIS-P 可以作為選項定制為魚眼檢查模型。
各種屏幕
檢查屏
掃描切割樣品并檢測缺陷。測試結果可以在下面的四個屏幕上確認。
檢查結果畫面（檢測圖顯示）
檢查結果畫面（原始圖像顯示）
檢查結果畫面（缺陷列表顯示）
檢查結果畫面（檢測圖像列表顯示）
信息管理畫面（結果數據列表）
您可以使用與測試時相同的屏幕配置來檢查過去測試的數據。
您可以從過去的測試結果中選擇任何數據，并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲器。
信息管理畫面（檢測圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測圖像列表顯示）
您可以在與測試時相同的四個屏幕上檢查過去的測試結果。
濃度測量畫面
可以調出缺陷圖像的濃度測量屏幕。
在密度測量屏幕上，您可以分析缺陷的灰度等級和尺寸。
檢查條件設定畫面
最多可注冊100個品種。
可以為每種產品類型注冊檢測靈敏度和尺寸等各種設置。開始檢查時，只需選擇注冊的產品類型，就會設置適當的檢查條件。
波形監視器
*啟動設備時，每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。
可以使用波形監視器功能來調整檢測器（攝像機/發射器）。
規格
| 解決 | 寬度方向10μm×長度方向10μm |
|---|---|
| 相機 | C-MOS線傳感器相機（單色）16384像素/680MHz |
| 泛光燈 | LED線照明（從下面選擇） ?ALTIS-RP（反射/透射） ?ALTIS-R（反射） ?ALTIS-P（透射） |
| 樣本量 | 尺寸：210mm x 297mm（A4尺寸） 厚度：0.05mm ~ 最大1.0mm |
| 檢測判斷 | 明/暗漸變、寬度/長度/面積 |
| 移動速度 | 工作臺移動速度 6 m/min。 |
| 檢驗時間 | 約15秒（每張） |
| 檢驗范圍 | 拍攝范圍：160 mm x 230 mm *請聯系我們了解檢查尺寸（定制設計） |
| 電源 | AC100~220V 50/60Hz |
| 個人電腦 | CPU：Intel Core i7 3.4GHz |