現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000概述該測量儀器適用于分析最新的光學設備，如硅光子學。來自內置光源的光以透射或反射模式同時測量連接到光纖的光學設備的所有光傳輸參數(shù)。 此外，基于測量數(shù)據(jù)，可以在時域和光頻域對光學器件進行評估和分析。有兩種類型的波長范圍：OVA5000 （1
現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000
現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000
現(xiàn)貨NIRECO尼利可 光學矢量分析儀 OVA5000
來自內置光源的光以透射或反射模式同時測量連接到光纖的光學設備的所有光傳輸參數(shù)。 此外，基于測量數(shù)據(jù)，可以在時域和光頻域對光學器件進行評估和分析。
有兩種類型的波長范圍：OVA5000 （1525-1610 nm） 和 OVA5013 （1270-1340 nm）。 兩者都可以通過內置氣室進行自校準，無需制造商進行校準。
光源輸出（透射模式） 反射輸入（在反射模式下）光纖連接器 連接器類型 功能 源 FC/APC公司 探測器 FC/APC公司 透明輸入（在透明模式下） 輔助 FC/APC公司 廠家使用
| 性能項目 | 性能 | |
|---|---|---|
| 高速模式*1 | 平均模式*2 | |
| 波長范圍 | ||
插入損耗、偏振相關損耗、偏振模色散、次級偏振模色散、波長色散、 群時延， 光學時域響應， 瓊斯矩陣元， 光學相位響應 | ||
| 波長范圍 | ||
| OVA5000 | 1525-1610納米 | |
| OVA5013 | 1270-1340納米 | |
| 波長 | ||
| 標準分辨率 | 1.6pm | |
| 虧損表現(xiàn) | ||
| 插入損耗精度 | ±0.1分貝 | ±0.05分貝 |
| 回波損耗精度 | ±0.2分貝 | ±0.1分貝 |
| 波長色散 | ||
| 精度 | ±10 ps/nm | ±5 ps/nm |
| 組延遲 | ||
| 精度 | ±0.2 ps/nm | ±0.1 ps/nm |
| 偏振模色散 | ||
| 精度（一階） | ±0.03ps（100pm步長） ±0.15ps（30pm步長） | ±0.08 ps |
| 精度（二階） | ±10ps2 | ±2ps2 |
| 偏振相關損耗 | ||
| 消光比（動態(tài)范圍） | 40分貝 | 50分貝 |
| 精度 | ±0.05分貝 | ±0.03分貝 |
| 測量時序 | ||
| 總性能測量時間*3 | 12 秒 | 55 秒 |
| 最大器件長度（包括引線長度） | ||
| 傳輸 | 150米 | |
| 反射 | 75米 | |
| 其他尺寸 | ||
| 功耗 | 100 瓦 | |
| 重量（不包括控制器） | 16.2 千克 | |
| 機柜尺寸 | 47×42×21 厘米 | |
※1. 高速模式：無平均校準。 4 次平均測量掃描，30 pm 分辨率帶寬，8 m 元件長度（精度通過 NIST 認證樣品確認，IL 除外）。 啟用高動態(tài)范圍選項
※2. 平均模式：4 次平均校準掃描、64 次平均測量掃描、30 pm 分辨率帶寬、8 m 元件長度（精度由 NIST 認證樣品確認，IL 除外）。 啟用高動態(tài)范圍選項
※3. 高速模式，全規(guī)格測量。 40nm量程，平均模式：2.5nm量程，不包括校準時間