對于粒徑較大的樣品，在移動 X 軸載物臺的同時進行光譜的多點測量。 通過對最終獲得的光譜進行平均，可以獲得穩定的光譜。
此功能減少了粗粒樣品測量中重新填充過程中的可變性，并且可有效測量未磨碎的谷物（大米、小麥、大豆等）和長樣品（干面條等）。

對于高度均勻的試樣（如粉末），可以通過移動 XY 的兩個軸來自動連續測量設置在托盤上的多個樣品。
對于定量分析，使用帶有密封塞的特殊石英瓶倉。 托盤尺寸有標準φ29mm 3×2掛架、φ29mm 4×2掛架和φ19mm 5×3掛架，可根據用途選擇最佳尺寸。
此外，我們還將支持舞臺操作，根據客戶的要求實現映射測量，因此請使用它來實現利用您的想法的測量。

通過設置用于居中的光圈適配器，可以測量靜止狀態下的居中。 您也可以在測量單元中設置培養皿并直接測量。 也可以通過一個接一個地居中來測量顆粒狀樣品。
如果要測量的試樣特別大，可以移除用于定心的虹膜適配器，將試樣直接放在 Mr./Ms. 臺上，從而實現不受試樣尺寸影響的靈活性。