概述

• X 射線熒光光譜儀 （XRF） 不僅可以識別構成樣品的元素，還可以通過檢測用 X 射線照射樣品產生的每種元素所產生的特異性熒光 X 射線來分析其成分比例。 XRF原則上是一種非破壞性和非侵入性的測量設備。




• 應用包括采礦中的礦物分析和采礦領域的勘探鉆探，工業領域的金屬和合金（如材料）的識別和分類，RoHS和CPSIA等安全一致性測試，SDG領域的廢鋼廠廢金屬的識別和分類，環境領域的土壤污染調查， 此外，利用其非侵入性的特性，設想了廣泛的領域，例如工藝品的判斷。




• X-500 系列是 2021 年 6 月在日本發布的最新高級型號。




• 它具有最輕而堅固的金屬框架，其狹窄的尖端形狀使其能夠在狹窄的間隙中測量樣品表面。




• 您可以根據要測量的樣品和環境從兩種類型的光源中進行選擇。




• 除了提供根據您的需求量身定制的軟件庫外，您還可以使用可選的 PC 軟件創建自己的校準曲線。

吸頭形狀

• 與傳統型號相比，X-500 系列的窄尖端形狀使其可以測量狹窄間隙后面的樣品表面，使其成為現場操作的理想選擇。

規格