玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100
玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100新開發的 L-500 涂層測厚儀探頭電磁探頭(用于磁性金屬基板)存儲多達 50 個應用程序存儲器主要規格測量方法歸納測量目標磁性金屬上的非磁性涂層測量范圍0 ~ 2,500 微米測量精度小于 15 μm± 0.3 μm 15 μm 或更高和小于 1,000 μm±2% 1,000
玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100新開發的 L-500 涂層測厚儀探頭電磁探頭(用于磁性金屬基板)存儲多達 50 個應用程序存儲器主要規格測量方法歸納測量目標磁性金屬上的非磁性涂層測量范圍0 ~ 2,500 微米測量精度小于 15 μm± 0.3 μm 15 μm 或更高和小于 1,000 μm±2% 1,000
玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100
玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100
玉崎供應KETT凱特 探頭 EP-100
新開發的 L-500 涂層測厚儀探頭
電磁探頭(用于磁性金屬基板)
存儲多達 50 個應用程序存儲器
測量方法 | 歸納 |
---|---|
測量目標 | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
測量范圍 | 0 ~ 2,500 微米 |
測量精度 | 小于 15 μm± 0.3 μm 15 μm 或更高和 小于 1,000 μm±2% 1,000 μm 或更高±3% |
兼容的設備類型 | 涂層測厚儀 L-500 |